一、设备简介：

矿石分析仪指的是对矿石中含有的元素及其含量分析的仪器，即时利用X射线辐射产生荧光来分析的一种仪器，在X射线荧光分析矿石中的元素及含量中。 国外仪器主要适用FP法(基本参数法)。针对不同的矿石种类，利用基本参数法结合经验系数法测试矿石成分中的元素含量，主要生产手持式矿石分析仪，在矿石分析方面主要结合基本参数法和经验系数法来制作针对不同矿石种类的各种工作模式，选择适当的工作模式可以得到相当高的精度。

二、主要技术指标：

激发源：大功率高性能微型直板电子X射线管

探测器：25mm2 硅漂移探测器

冷却系统：Peltier恒温冷却系统

滤波器：高性能多个滤波片可自动切换

电压：15kV~40kV多段可选择的电压

显示屏：高分辨率Blanview透射背光彩色触摸屏